| 規(guī) 格： |
型 號：BrillianSe |
數(shù) 量：1臺 |
| 品 牌：KA Imaging |
包 裝：紙箱 |
價 格：面議 |
BrillianSe直接轉(zhuǎn)換高精度X射線探測器
加拿大KA Imaging推出了其專有的無定形硒（a-Se）BrillianSe™X射線探測器，用于高亮度成像。這款混合a-Se/CMOS的探測器采用具有高固有空間分辨率的a-Se光導(dǎo)體，可直接將X射線光子轉(zhuǎn)換為電荷。然后，低噪聲CMOS有源像素傳感器（APS）讀取電子信號。無需先將X射線光子轉(zhuǎn)換為可見光（這在間接閃爍體方法中是必需的），因此不需要減薄轉(zhuǎn)換層以減少光學(xué)散射。BrillianSe™提供了一種獨特的組合，使用8微米像素實現(xiàn)高空間分辨率，以及具有高達120 keV的能量的高探測量子效率（DQE）。這種組合可實現(xiàn)在低通量和高能量條件下進行高效成像，并可進行基于傳播的（無光柵）相位對比增強，以提高低密度材料成像時的靈敏度。BrillianSe™ X射線檢測器具有1600萬的像素（16M）。 
主要應(yīng)用 ✔低密度材料相差對比邊緣增強 ✔單光子靈敏度(>50 keV) ✔同步加速器、微納CT等X射線探測系統(tǒng)，替換其原有探測器或搭建系統(tǒng) ✔高能量(>50 keV)布拉格相干衍射成像 技術(shù)介紹 直接轉(zhuǎn)換技術(shù)允許使用厚轉(zhuǎn)換層，并以填充因子運行，以獲得高 DQE。在60kVp（2mm鋁濾波）下，BrillianSe™具有市場領(lǐng)先的高 DQE（10 cycles/mm時為36%）和小點擴散函數(shù)（PSF）（1.1 像素）的組合。這有助于低通量應(yīng)用成像，例如X射線衍射、劑量敏感的蛋白晶體學(xué)以及對有和無相位對比的材料進行受通量限制的成像。在63keV 時，MTF在 Nyquist（奈奎斯特）頻率下為10%。此外，在低能量（21 keV）下，使用透射條形靶標樣可展示8微米的分辨率。 
JIMA空間分辨率標樣(21kev)的BrillianSe圖像。數(shù)字表示以微米為單位的條寬。左側(cè)為橫截面8μm的圖案 應(yīng)用案例 BrillianSe高分辨X射線探測器具有16M像素，采用直接轉(zhuǎn)換專有技術(shù)，對樣品進行“吸收襯度+相位襯度”成像，大幅度提高樣品中的低密度成分成像時的靈敏度，可用于硬x射線包括同步加速器線束。探測樣品案例，如：芳綸等復(fù)合材料（Kevlar）、腦支架、硅通孔(TSV)、牙簽、甜椒種子、藥物膠囊、輕質(zhì)骨料（混凝土）等。
甜椒種子有相襯成像和無相襯成像（僅吸收襯度，無相位襯度）之對比
采用BrillianSe高分辨直接轉(zhuǎn)換探測器的X射線探測系統(tǒng)應(yīng)用場景舉例 ✔表征材料微觀結(jié)構(gòu) ✔對現(xiàn)有零件幾何形狀進行逆向工程 ✔驗證或校準仿真工作流 ✔應(yīng)用到NDT(無損檢測)和GD&T(幾何尺寸和公差)檢驗方案 ✔監(jiān)控生產(chǎn)過程 ✔確定問題的根本原因
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